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所有产品
  • GN-CSL100-R
    GN-CSL100-R

    产品特点: 提供低角度照射,适用于圆形被测物体,采用特殊漫射材料,均匀性高,无灯珠干扰。 应用范围广:圆形金属件轮廓提取、低角度均匀照射、低角度特征提取、各种字符识别、基板上的零件检测、标签检测、晶元上的异物检测

  • GN-CSL50-B
    GN-CSL50-B

    产品特点: 提供低角度照射,适用于圆形被测物体,采用特殊漫射材料,均匀性高,无灯珠干扰。 应用范围广:圆形金属件轮廓提取、低角度均匀照射、低角度特征提取、各种字符识别、基板上的零件检测、标签检测、晶元上的异物检测

  • GN-CSL50-R
    GN-CSL50-R

    产品特点: 提供低角度照射,适用于圆形被测物体,采用特殊漫射材料,均匀性高,无灯珠干扰。 应用范围广:圆形金属件轮廓提取、低角度均匀照射、低角度特征提取、各种字符识别、基板上的零件检测、标签检测、晶元上的异物检测

  • GN-CSL50-W
    GN-CSL50-W

    产品特点: 提供低角度照射,适用于圆形被测物体,采用特殊漫射材料,均匀性高,无灯珠干扰。 应用范围广:圆形金属件轮廓提取、低角度均匀照射、低角度特征提取、各种字符识别、基板上的零件检测、标签检测、晶元上的异物检测

  • GN-CSL88-B
    GN-CSL88-B

    产品特点: 提供低角度照射,适用于圆形被测物体,采用特殊漫射材料,均匀性高,无灯珠干扰。 应用范围广:圆形金属件轮廓提取、低角度均匀照射、低角度特征提取、各种字符识别、基板上的零件检测、标签检测、晶元上的异物检测

  • GN-CSL88-G
    GN-CSL88-G

    产品特点: 提供低角度照射,适用于圆形被测物体,采用特殊漫射材料,均匀性高,无灯珠干扰。 应用范围广:圆形金属件轮廓提取、低角度均匀照射、低角度特征提取、各种字符识别、基板上的零件检测、标签检测、晶元上的异物检测

  • GN-CSL88-R
    GN-CSL88-R

    产品特点: 提供低角度照射,适用于圆形被测物体,采用特殊漫射材料,均匀性高,无灯珠干扰。 应用范围广:圆形金属件轮廓提取、低角度均匀照射、低角度特征提取、各种字符识别、基板上的零件检测、标签检测、晶元上的异物检测

  • GN-CSL88-W
    GN-CSL88-W

    产品特点: 提供低角度照射,适用于圆形被测物体,采用特殊漫射材料,均匀性高,无灯珠干扰。 应用范围广:圆形金属件轮廓提取、低角度均匀照射、低角度特征提取、各种字符识别、基板上的零件检测、标签检测、晶元上的异物检测

  • GN-CSL100-B
    GN-CSL100-B

    产品特点: 提供低角度照射,适用于圆形被测物体,采用特殊漫射材料,均匀性高,无灯珠干扰。 应用范围广:圆形金属件轮廓提取、低角度均匀照射、低角度特征提取、各种字符识别、基板上的零件检测、标签检测、晶元上的异物检测

  • GN-CSL100-G
    GN-CSL100-G

    产品特点: 提供低角度照射,适用于圆形被测物体,采用特殊漫射材料,均匀性高,无灯珠干扰。 应用范围广:圆形金属件轮廓提取、低角度均匀照射、低角度特征提取、各种字符识别、基板上的零件检测、标签检测、晶元上的异物检测

  • GN-CSL180-W
    GN-CSL180-W

    产品特点: 提供低角度照射,适用于圆形被测物体,采用特殊漫射材料,均匀性高,无灯珠干扰。 应用范围广:圆形金属件轮廓提取、低角度均匀照射、低角度特征提取、各种字符识别、基板上的零件检测、标签检测、晶元上的异物检测

  • GN-CSL100-W
    GN-CSL100-W

    产品特点: 提供低角度照射,适用于圆形被测物体,采用特殊漫射材料,均匀性高,无灯珠干扰。 应用范围广:圆形金属件轮廓提取、低角度均匀照射、低角度特征提取、各种字符识别、基板上的零件检测、标签检测、晶元上的异物检测

  • GN-CSL150-B
    GN-CSL150-B

    产品特点: 提供低角度照射,适用于圆形被测物体,采用特殊漫射材料,均匀性高,无灯珠干扰。 应用范围广:圆形金属件轮廓提取、低角度均匀照射、低角度特征提取、各种字符识别、基板上的零件检测、标签检测、晶元上的异物检测

  • GN-CSL150-G
    GN-CSL150-G

    产品特点: 提供低角度照射,适用于圆形被测物体,采用特殊漫射材料,均匀性高,无灯珠干扰。 应用范围广:圆形金属件轮廓提取、低角度均匀照射、低角度特征提取、各种字符识别、基板上的零件检测、标签检测、晶元上的异物检测

  • GN-CSL150-R
    GN-CSL150-R

    产品特点: 提供低角度照射,适用于圆形被测物体,采用特殊漫射材料,均匀性高,无灯珠干扰。 应用范围广:圆形金属件轮廓提取、低角度均匀照射、低角度特征提取、各种字符识别、基板上的零件检测、标签检测、晶元上的异物检测

  • GN-CSL150-W
    GN-CSL150-W

    产品特点: 提供低角度照射,适用于圆形被测物体,采用特殊漫射材料,均匀性高,无灯珠干扰。 应用范围广:圆形金属件轮廓提取、低角度均匀照射、低角度特征提取、各种字符识别、基板上的零件检测、标签检测、晶元上的异物检测

  • GN-CSL180-B
    GN-CSL180-B

    产品特点: 提供低角度照射,适用于圆形被测物体,采用特殊漫射材料,均匀性高,无灯珠干扰。 应用范围广:圆形金属件轮廓提取、低角度均匀照射、低角度特征提取、各种字符识别、基板上的零件检测、标签检测、晶元上的异物检测

  • GN-CSL180-G
    GN-CSL180-G

    产品特点: 提供低角度照射,适用于圆形被测物体,采用特殊漫射材料,均匀性高,无灯珠干扰。 应用范围广:圆形金属件轮廓提取、低角度均匀照射、低角度特征提取、各种字符识别、基板上的零件检测、标签检测、晶元上的异物检测

  • GN-CSL180-R
    GN-CSL180-R

    产品特点: 提供低角度照射,适用于圆形被测物体,采用特殊漫射材料,均匀性高,无灯珠干扰。 应用范围广:圆形金属件轮廓提取、低角度均匀照射、低角度特征提取、各种字符识别、基板上的零件检测、标签检测、晶元上的异物检测